蔡司X射線顯微鏡Xradia CrystalCT

先進(jìn)的商用晶體成像微米CT系統(tǒng)

蔡司X射線顯微鏡Xradia CrystalCT是為您揭示樣品晶體信息和微觀結(jié)構(gòu)秘密的開(kāi)創(chuàng)性微米CT。本產(chǎn)品以其獨(dú)特方式擴(kuò)展了計(jì)算機(jī)斷層掃描的強(qiáng)大技術(shù)，使其具有展示晶體晶粒微觀結(jié)構(gòu)的能力，改變了研究多晶體材料（如金屬、增材制造、陶瓷等）的方式，從而為您的材料研究帶來(lái)更新、更深的洞見(jiàn)。

產(chǎn)品亮點(diǎn)

CrystalCT投影光路圖示。CrystalCT提供雙重模式：吸收襯度斷層掃描（ACT）和衍射襯度斷層掃描（DCT）鋁-4wt%銅樣品，測(cè)量斷面尺寸為（長(zhǎng)度）1.25 mm、（寬度）1.0 mm、（厚度）0.5 mm。圖像是使用高縱橫比的黃金螺旋掃描樣品而得。對(duì)鋼筋混凝土樣品進(jìn)行定量體積分析。孔隙渲染為紫色。

DCT為您的研究帶來(lái)更多的可能性

蔡司研究顯微鏡解決方案部門(mén)和Xnovo Technology合作提供了革命性的實(shí)驗(yàn)室衍射襯度斷層掃描（DCT）功能。使用3D晶粒成像，微米CT上的DCT令技術(shù)和工業(yè)研究實(shí)驗(yàn)室能夠?qū)蜗喽嗑Р牧线M(jìn)行3D成像，包括多種金屬、礦物、陶瓷、半導(dǎo)體和制藥樣品。專(zhuān)用的蔡司Xradia CrystalCT兼具了精準(zhǔn)設(shè)計(jì)的小孔光闌和擋光板組件，從而可以利用發(fā)散的多色X射線束來(lái)照亮感興趣區(qū)域，并提高對(duì)多晶樣品較弱衍射信號(hào)的靈敏度。創(chuàng)新的DCT圖像采集模式消除了對(duì)大尺寸樣品的限制，讓您能夠研究更多的樣本類(lèi)型。無(wú)縫大體積晶粒成像讓掃描樣品的速度更快，數(shù)據(jù)代表性更準(zhǔn)確。

先進(jìn)的衍射掃描模式，提供出色的樣品代表性

通過(guò)開(kāi)創(chuàng)性的衍射掃描模式，蔡司X射線顯微鏡Xradia CrystalCT推動(dòng)了材料表征、建模和研究。

• 提供出色的樣品代表性。

• 可以掃描更大的樣本體積。

• 簡(jiǎn)化樣品制備，可處理不規(guī)則/自然的樣品形狀。

• 提高速度。

• 應(yīng)對(duì)樣品的獨(dú)特性。

這些先進(jìn)的模式克服了傳統(tǒng)DCT數(shù)據(jù)采集以前遇到的一些困難和挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)數(shù)據(jù)采集會(huì)假設(shè)在所有的旋轉(zhuǎn)角度下，樣品感興趣區(qū)域（ROI）會(huì)通過(guò)孔徑觀察視野（FOV）得到完全的照明。受自然界黃金角的啟發(fā)，高級(jí)衍射掃描模式提供了黃金螺旋掃描模式，這樣便于管理各種樣品形狀和尺寸。

強(qiáng)大的微米CT平臺(tái)

蔡司利用其強(qiáng)大的Xradia技術(shù)，在微米CT上提供了業(yè)界知名的出色性能。憑借強(qiáng)大的平臺(tái)、由軟件靈活控制的X射線源/樣品/探測(cè)器定位，以及大型探測(cè)器陣列，您可以進(jìn)行高對(duì)比度、高質(zhì)量、高分辨率掃描。對(duì)整個(gè)物體或器件進(jìn)行成像，從而展示其內(nèi)部細(xì)節(jié)的3D全景。更快的采集速度使您運(yùn)行樣品的時(shí)間可以縮短，從而大大提高您的生產(chǎn)效率和盈利能力。無(wú)損CT也可以進(jìn)行原位和4D研究，從而實(shí)際了解各種條件隨時(shí)間推移的影響。蔡司X射線顯微鏡Xradia成像系統(tǒng)兼具久經(jīng)考驗(yàn)的硬件架構(gòu)與先進(jìn)的穩(wěn)定性和漂移補(bǔ)償功能。正是由于這個(gè)平臺(tái)的出色穩(wěn)定性，CrystalCT始終在拓展研究領(lǐng)域的微米CT前沿。